Skaningowy Mikroskop Elektronowy w IGiPZ PAN

Nie, 13.04.2014

 

Miło nam poinformować, że laboratorium Zakładu Geoekologii i Klimatologii IGiPZ PAN wzbogaciło się o Skaningowy Mikroskop Elektronowy JSM-6610LV firmy Jeol wraz z detektorem EDS. W skład stanowiska SEM wchodzą również dwa komputery PC firmy DELL wraz z oprogramowaniem Jeol obsługującym pracę mikroskopu i detektora EDS oraz kompaktowa, próżniowa napylarka Quorum SC7620 Sputter Coater. Sprzęt zakupiono z dotacji MNiSW na inwestycję w zakresie dużej infrastruktury badawczej.

Skaningowa mikroskopia elektronowa umożliwia obserwację próbek zarówno organicznych, jak i mineralnych w bardzo dużych powiększeniach (w przypadku zakupionego sprzętu maksymalnie do 300 000 razy). Jej zastosowanie w badaniach z zakresu geografii, zwłaszcza gleboznawstwa i geomorfologii, jest bardzo szerokie. Dzięki dużej dokładności, możliwe jest analizowanie cech teksturalnych powierzchni badanego materiału. Cechy ultramorfoskopowe próbek mineralnych (m.in. ziaren piasku kwarcowego, pyłu), będące wynikiem oddziaływania fizycznych i chemicznych procesów przekształcania materiału mineralnego, są wykorzystywane m.in. do rekonstrukcji paleośrodowiskowych oraz stanowią doskonały indykator badań nad warunkami pedogenezy. Ponadto w próbkach o nienaruszonej strukturze, SEM daje możliwość obserwacji cech mikromorfologicznych, m.in. sposobu ułożenia ziaren, czy porowatości. Dodatkowo SEM wyposażony jest w energodyspersyjny analizator promieniowania X-Ray (EDS) umożliwiający analizę składu pierwiastkowego powierzchni badanych próbek. Obserwację materiału można rozpocząć dopiero po jego uprzednim napyleniu mieszaniną złota i palladu w napylarce Quorum SC7620 Sputter Coater. Próbki nienapylone nie są widoczne pod skaningowym mikroskopem elektronowym. 

W ramach dotacji przeprowadzono również szkolenie z obsługi mikroskopu oraz oprogramowania. Wykorzystanie mikroskopii elektronowej wpisuje się w zakres prac realizowanych przez Zakłady IGiPZ PAN zajmujące się geografią fizyczną (Zakład Badań Geośrodowiska, Zakład Geoekologii i Klimatologii, Zakład Zasobów Środowiska i Geozagrożeń). Dzięki dużej zdolności rozdzielczej, głębi ostrości oraz możliwości szybkiego skanowania analizowanych próbek i uzyskiwania obrazu dyfrakcyjnego, SEM jest jednym z najbardziej nowoczesnych i zaawansowanych urządzeń analitycznych w naszym Instytucie. 

 

  Skaningowy Mikroskop Elektronowy JSM-6610LV firmy Jeol z detektorem EDS  
     
Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV
     
Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV Obraz ze Skaningowego Mikroskopu Elektronowego JSM-6610LV

 

Wróć